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默克 Supelco® Prove系列实验室多参数水质分析仪
Spectroquant® Prove系列的仪器和测试试剂盒具有多个重要功能,因此提高了水质分析的效率和可靠性,这些功能包括:· 实时自动识别(Live ID)功能,这是一种新型
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奥豪斯 便携式电子天平Scout™ SPX SPX622
超大背光LCD显示屏,让用户在光线不佳的环境下,也能远距离读取数 据。四个机械按键,可轻松进行菜单设置、称量单位切换、天平校准等功 能。
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奥豪斯 便携式电子天平Scout™ SPX SPX422
超大背光LCD显示屏,让用户在光线不佳的环境下,也能远距离读取数 据。四个机械按键,可轻松进行菜单设置、称量单位切换、天平校准等功 能。
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奥豪斯 便携式电子天平Scout™ SPX SPX2201
超大背光LCD显示屏,让用户在光线不佳的环境下,也能远距离读取数 据。四个机械按键,可轻松进行菜单设置、称量单位切换、天平校准等功 能。
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奥豪斯 便携式电子天平Scout™ SPX SPX222
超大背光LCD显示屏,让用户在光线不佳的环境下,也能远距离读取数 据。四个机械按键,可轻松进行菜单设置、称量单位切换、天平校准等功 能。
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奥豪斯 便携式电子天平Scout™ SPX SPX6201
超大背光LCD显示屏,让用户在光线不佳的环境下,也能远距离读取数 据。四个机械按键,可轻松进行菜单设置、称量单位切换、天平校准等功 能。
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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哈希HQd 系列台式/便携式多参数数字化分析仪
哈希公司的HQd 系列数字化分析仪目前可检测11 种参数,具有标准型、坚固型以及Ultra 等多种电极选择。哈希公司的HQd 数字化分析仪具有zei大的测量灵活性,电极更换等操作非常简单,且可以
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奥豪斯便携式电子天平Scout™ SPX
实验室和工业称重领域的新标准全新Scout™ SPX 电子天平可适用于实验室和工业称重领域,采用超薄、可堆叠的设计, 配备超大背光LCD显示屏。同时,全新Scout™ SPX 具备卓越的过载
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